行業(yè)新聞|2022-09-05|admin
FCT檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試儀的功用原理是為測(cè)試目的板提供模仿運(yùn)轉(zhuǎn)環(huán)境(鼓勵(lì)和負(fù)載)，使其在各種設(shè)計(jì)狀態(tài)下工作，從而取得各種狀態(tài)的參數(shù)，以考證電路板的功用。簡(jiǎn)單地說(shuō)，它是對(duì)電路板加載恰當(dāng)?shù)墓膭?lì)和負(fù)載，以丈量其輸出端響應(yīng)能否契合設(shè)計(jì)請(qǐng)求。
功用測(cè)試的分類。
依據(jù)不同的控制形式，可分為：
(1)手動(dòng)控制功用測(cè)試。
(2)半自動(dòng)控制功用測(cè)試。
(3)全自動(dòng)控制功用測(cè)試。
最早的功用測(cè)試主要是手動(dòng)和半自動(dòng)的。即便是如今，關(guān)于一些簡(jiǎn)單的測(cè)試板功用測(cè)試，基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和降低消費(fèi)本錢，有時(shí)也會(huì)運(yùn)用手動(dòng)或半自動(dòng)測(cè)試計(jì)劃。隨著科學(xué)技術(shù)的快速開(kāi)展，為了節(jié)約消費(fèi)本錢，進(jìn)步消費(fèi)效率，絕大多數(shù)功用測(cè)試都運(yùn)用自動(dòng)測(cè)試計(jì)劃。
依據(jù)控制器的類型，可分為：
(1)MCU控制形式。
MCU控制形式可視為簡(jiǎn)單的嵌入式控制。MCU和嵌入式CPU控制形式的特性是：
a測(cè)試執(zhí)行速度快。
b測(cè)試操作簡(jiǎn)單明了。
數(shù)據(jù)顯現(xiàn)和輸出需求特殊的電路和程序。
d測(cè)試計(jì)劃針對(duì)性強(qiáng)。
易于修正e測(cè)試軟件。
(2)嵌入式CPU控制形式。
(3)PC控制形式。
PC控制是目前運(yùn)用最普遍的FCT測(cè)試辦法，主要是由于：
APC技術(shù)已成為當(dāng)今社會(huì)的根本通用技術(shù)。
bpc廉價(jià)。
PC操作系統(tǒng)能夠很便當(dāng)?shù)赝瓿蒀測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)輸出和文件處置。
d測(cè)試軟件的操作更接近用戶的操作習(xí)氣。
e有特地的測(cè)試程序開(kāi)發(fā)軟件。
(4)PLC控制形式。
PLC控制形式也是目前常用的FCT開(kāi)發(fā)形式，主要集中在控制感應(yīng)局部，丈量板的丈量功用較弱。這是由于PLC是特地用于工業(yè)控制的。
功用測(cè)試系統(tǒng)的組成。
PCBA功用測(cè)試的系統(tǒng)組成主要分為：
(1)系統(tǒng)控制中心。
(2)控制執(zhí)行局部。
(3)參數(shù)丈量局部。
(4)數(shù)據(jù)處置和輸出局部。
系統(tǒng)控制中心：該局部普通由PC、MCU、ARM等小中央處置器組成，是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的中心部件，其主要作用是控制整個(gè)測(cè)試過(guò)程的運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)，判別和記載每一步的測(cè)試內(nèi)容和結(jié)果，最終得到測(cè)試結(jié)果。
控制執(zhí)行局部：控制執(zhí)行局部主要由I/O部件組成。它是測(cè)試過(guò)程中邏輯動(dòng)作的感應(yīng)和執(zhí)行機(jī)構(gòu)。系統(tǒng)構(gòu)建各種測(cè)試環(huán)境，完成測(cè)試功用。
參數(shù)丈量局部：丈量局部主要由丈量專用板卡和儀器組成，主要完成測(cè)試過(guò)程中的各種模仿或數(shù)字搜集，有時(shí)稱為數(shù)據(jù)搜集局部。
數(shù)據(jù)處置和輸出局部：每一步和最終測(cè)試結(jié)果是我們整個(gè)測(cè)試的目的。如何存儲(chǔ)和輸出這些結(jié)果和數(shù)據(jù)，更便當(dāng)我們有效地控制PCBA產(chǎn)品的質(zhì)量，這是數(shù)據(jù)處置和輸出局部的義務(wù)。
FCT的緣由。
PCBA中文稱為實(shí)裝電路板。在電路板的批量消費(fèi)過(guò)程中，由于設(shè)備的運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)和操作人員的人為要素，不可能保證一切消費(fèi)的電路板都是完好的。這就請(qǐng)求在消費(fèi)完畢時(shí)添加各種測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具，以確保一切實(shí)裝電路板與設(shè)計(jì)中的規(guī)格和參數(shù)完整分歧，從而產(chǎn)生ICT、AOI、X-Ray、Boundary-Scan、FCT等測(cè)試手腕。
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